Op maat gemaakte thermische schokkamers van roestvrij staal voldoen aan IEC-60068-2-14

In de sector elektronica en de industriële productie is de noodzaak van componenten die bestand zijn tegen moeilijke omgevingsomstandigheden van het grootste belang.met een vermogen van meer dan 50 W, Test Na2 testnormen, worden een cruciale troef bij het evalueren en verbeteren van de duurzaamheid van een breed scala aan producten.

Deze op maat gemaakte thermische schokkamer is bedoeld voor het onderwerpen van componenten en producten aan de specifieke eisen voor thermische schokproeven zoals beschreven in de IEC-60068-2-14, Test Na2-norm.Het bedient industrieën zoals de automobielindustrie., ruimtevaart, telecommunicatie en consumentenelektronica.

Het primaire doel is om het vermogen van componenten zoals circuits, connectoren, sensoren en behuizingen te beoordelen om snelle en extreme temperatuurschommelingen te weerstaan.Door de thermische schokken die deze onderdelen tijdens hun levensduur kunnen ondervinden te reproducerenIn het kader van deze strategie kunnen fabrikanten potentiële zwakke punten identificeren, ontwerp- en productieprocessen optimaliseren en de betrouwbaarheid en prestaties van hun producten in diverse en uitdagende omgevingen garanderen.

• Robuuste en geïsoleerde kamerstructuur
  De kamer is gebouwd met zware, hittebestendige materialen die de intense thermische spanningen kunnen weerstaan.in combinatie met geavanceerde thermische isolatielagen om de warmteoverdracht tussen de warme en koude zones te minimaliserenDe deur is ontworpen met een betrouwbaar afdichtingsmechanisme en een kijkvenster, waardoor de gebruikers het testproces kunnen volgen zonder de integriteit van de kamer in gevaar te brengen.Het interieur is ontworpen met verstelbare rekken en armaturen, waardoor onderdelen van verschillende grootte en vorm kunnen worden opgenomen en een gelijkmatige blootstelling aan de thermische schokomstandigheden kan worden gewaarborgd.
• Precisie temperatuurregelsysteem
  Temperatuurbereik en cyclus: in staat om een breed temperatuurbereik te bereiken, meestal van -60 °C tot +150 °C. Het systeem kan een snelle temperatuurcyclus uitvoeren tussen de warme en koude zones,met een overgangstijd van slechts enkele secondenDit is essentieel voor het nabootsen van de abrupte temperatuursveranderingen die componenten kunnen ondervinden in echte toepassingen, zoals wanneer een apparaat wordt ingeschakeld of uitgeschakeld,of wanneer zij aan externe warmtebronnen worden blootgesteldDe temperatuurregeling is nauwkeurig tot ±0,3°C, waardoor betrouwbare en herhaalbare testresultaten worden verkregen.
• Intuïtief bedieningspaneel en data-acquisitie-interface
  Het bedieningspaneel is ontworpen voor gebruiksvriendelijkheid, zodat de gebruikers gemakkelijk testparameters kunnen instellen en aanpassen, zoals temperatuurniveaus, verblijfstijden in elke zone,en het aantal thermische schokcycliHet biedt realtime weergaven van de huidige temperatuur in beide zones, de status van het testproces en eventuele alarmen of waarschuwingen.De kamer is geïntegreerd met een uitgebreid gegevensverzamelsysteem dat alle relevante testgegevens registreert.Dit omvat temperatuurgeschiedenis, cyclustijden en waarneembare veranderingen in de fysische, elektrische of mechanische eigenschappen van de onderdelen.De gegevens kunnen worden opgeslagen in een ingebouwd geheugen of worden geëxporteerd naar externe opslagapparaten voor verdere analyseHet systeem kan ook gedetailleerde testrapporten in verschillende formaten genereren.
• Veiligheidsvoorzieningen en alarmen
  Om de veiligheid van de gebruikers en de bescherming van de proefmonsters en van de kamer zelf te waarborgen, wordt een reeks veiligheidselementen geïntegreerd.Deze omvatten systemen voor bescherming tegen overtemperatuur en overstroom., noodstopknoppen en alarmen voor abnormale temperatuurschommelingen, storingen van apparatuur of andere veiligheidsproblemen.De kamer is eveneens uitgerust met passende ventilatiesystemen en uitlaatsystemen om eventuele potentieel schadelijke gassen of dampen die tijdens het testproces kunnen ontstaan, te behandelen..